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    型號(hào):XU-100

    鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀

    描述:鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。

    • 廠商性質(zhì)

      經(jīng)銷商
    • 更新時(shí)間

      2025-05-19
    • 訪問量

      897
    詳細(xì)介紹
    品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

    分析原理

     

    鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。

     鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:

    1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005

    2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

    3、庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

     

    鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀性能特點(diǎn)    

                                       

    1. 長(zhǎng)效穩(wěn)定X銅光管;

    2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測(cè)器,摒棄元素識(shí)別能力較弱的計(jì)數(shù)盒;

    3.內(nèi)置研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強(qiáng)器(SNE)與MCA多道分析器;

    4.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品;

    5.脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確;

    6.手動(dòng)開關(guān)樣品腔,操作安全方便;

    7.三重安全保護(hù)模式;

    8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡(jiǎn)潔;

    9.FP軟件,無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量。

    質(zhì)量保證、技術(shù)服務(wù)

    1.儀器進(jìn)行終身維修;

    2.軟件免費(fèi)升級(jí):如有軟件升級(jí),乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí),不再收取升級(jí)費(fèi)用;

     

    測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

     

    1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

     金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

    2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

    Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

    樣品測(cè)試步驟

    1)              每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick":

    用戶使用“Administrator",密碼:skyray

    2)              進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件"

    點(diǎn)擊“確定",即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)

    3)              選擇“工作曲線"

    如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推

    4)              放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化

    初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。

    5)              待測(cè)樣品測(cè)試

    放入待測(cè)的樣品,通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始",輸入樣品名稱后“確定"。

    6)              測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。

    注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。


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