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    型號:XU-100

    金屬電鍍膜厚分析儀

    描述:金屬電鍍膜厚分析儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。

    • 廠商性質

      經銷商
    • 更新時間

      2025-05-19
    • 訪問量

      1522
    詳細介紹
    品牌其他品牌價格區(qū)間面議
    產地類別國產應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

    1、儀器概述

        XU-100金屬電鍍膜厚分析儀是集喬邦儀器多年貴金屬檢測技術和經驗,以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。
     

    2、金屬電鍍膜厚分析儀性能優(yōu)勢

    專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測
    智能貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰
    任意多個可選擇的分析和識別模型
    相互獨立的基體效應校正模型
    多變量非線性回收程序

    3、金屬電鍍膜厚分析儀技術指標

    元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)
    測量對象:固體、液體、粉末
    分析檢出限可達:1ppm
    分析含量一般為:1ppm到99.9%
    多次測量重復性可達:0.1%
    長期工作穩(wěn)定性為:0.1%
    外觀尺寸:430×380×355mm 
    樣品腔尺寸:306×260×78mm 
    重量:30kg

    4、標準配置

    單樣品腔。
    正比計數(shù)盒探測器
    信號檢測電子電路
    高低壓電源
    X光管

    (1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;
    (2)重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監(jiān)測可進行快速檢測,檢測環(huán)境里的重金屬是否超標。
    同時具有以下特點
    快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
    方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上*電制冷半導體探測器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。
    無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
    直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
    測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
    可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
    滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設定儀器參數(shù),并就有多種*分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
    性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,可以讓更多的企業(yè)和接受。
    簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。


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